SDD還是PIN：您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器？
　　在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。
　　SDD對比PIN：它們之間有什么差別？
　　硅漂移檢測器（SDD）（德國KETEK公司）是一種較新的技術，其每秒鐘的X射線計數率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV。不過，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。
　　下圖說明了同一樣品中Si-pin和SDD的輸出差異。紅色峰表示SDD輸出，灰色光譜表示si-pin。
　　決定因素：這很復雜，但如果您需要測量低含量（0.05％以下）元素、輕合金（鎂鋁合金、含硅硫磷合金）或干擾比較大的合金（比如錫鉛鉍合金、鉭鈮合金），那么SDD是最佳選擇。
　　在確定哪種探測器更適合您的時候，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個重要的問題：
　　1、您是否需要測量一些輕元素，如：鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）或鈣（Ca）?
　　這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進行分揀。但是，配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素（如：銅、鉻或鐵）的含量對許多鋁合金牌號進行分揀。當然要進行更細微的區(qū)分，如：鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，需要使用配備了SDD探測器的分析儀。

　　如果您還是不太確定SDD和PIN探測器之間的差別，或者對XRF技術還有其他疑問，請不要遲疑，向我們尋求幫助！